| 序号 | 项 目 | 周 期 | 要 求 | 说 明 |
| 1 | 零值绝缘子检测(66kV及以上) | 1～5年。 | 在运行电压下检测。 |
①可根据绝缘子的劣化率调整检测周期； ②对多元件针式绝缘子应检测每一元件。 |
| 2 | 绝缘电阻 |
①悬式绝缘子1～5年； ②针式支柱绝缘子1～5年。 |
①针式支柱绝缘子的每一元件和每片悬式绝缘子的绝缘电阻不应低于300MΩ，500kV悬式绝缘子不低于500MΩ； ②半导体釉绝缘子的绝缘电阻自行规定。 |
①采用2500V及以上绝缘电阻测试仪； ②棒式支柱绝缘子不进行此项试验。 |
| 3 | 交流耐压试验 |
①单元件支柱绝缘子1～5年； ②悬式绝缘子1～5年； ③针式支柱绝缘子1～5年； ④随主设备； ⑤更换绝缘子时。 |
①支柱绝缘子的交流耐压试验电压值见附录B； ②35kV针式支柱绝缘子交流耐压试验电压值如下： 两个胶合元件者，每元件50kV；三个胶合元件者，每元件34kV； ③机械破坏负荷为60～300kN的盘形悬式绝缘子交流耐压试验电压值均取60kV。 |
①35kV针式支柱绝缘子可根据具体情况按左栏要求①或②进行； ②棒式绝缘子不进行此项试验。 |
| 4 | 绝缘子表面污秽物的等值盐密 | 1年。 | 参照文章《绝缘子污秽等级与对应附盐密度值》检查所测盐密值与当地污秽等级是否一致。结合运行经验，将测量值作为调整耐污绝缘水平和监督绝缘安全运行的依据。盐密值超过规定时，应根据情况采取调爬、清扫、涂料等措施。 | 应分别在户外能代表当地污染程度的至少一串悬垂绝缘子和一根棒式支柱上取样，测量在当地积污最重的时期进行。 |
| 注：运行中针式支柱绝缘子和悬式绝缘子的试验项目可在检查零值、绝缘电阻及交流耐压试验中任选一项。玻璃悬式绝缘子不进行序号1、2、3项中的试验，运行中自破的绝缘子应及时更换。 | ||||
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